SEA1200VX 桌上型X射線螢光分析儀

採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器，為一般SEM/EDX專用之高階檢測器，不需要使用液態氮冷卻。

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SEA1200VX 桌上型X射線螢光分析儀詳細資料

■ 產品特色
1.採用Vortex高解析度之矽半導體多陰極檢測器，為一般SEM/EDX專用之高階檢測器，不需要使用液態氮冷卻。
2.高計數率設計的Vortex檢測器，計數率可達150,000 cps，是一般檢測器的15~20倍，能接受更多的Ｘ螢光訊號，針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。

■ 基本規格

測定元素	原子編號 11 (Na) ~ 83 (U)
樣品形態	固體，粉末，液體
X光管	小型空冷式X射線管球(Rh靶)
X光管	管電壓： 15kV, 30kV, 40kV, 50kV 管電流：1mA
檢測器	Si 半導體檢測器 (無需液態氮)
準直器	1mm, 5mm自動切換
樣品觀察	彩色CCD攝像頭
濾波器	5種模式自動切換
樣品室	430(W)320(D)209(H)mm
X-ray Station	筆記型電腦或桌上型電腦
X-ray Station	(OS MS-windows XP)
印表機(選購)	噴墨印表機
定性分析功能	能譜測定，自動辨別，圖譜比對
定量分析功能	KLM 標示表示,，差異表示，塊體FP法，標準曲線法
統計處理功能	MS-EXCEL
報告製作	MS-WORD
設置尺寸	1080(W)750(D)810(H)mm(不含印表機)
重量	90kg
使用電源	AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10, 10A
選購	有害物質判定軟體
	能譜匹配軟體(材料判定)
	薄膜標準曲線軟體
	樣品進樣器
	準直器: 3mm&Phi
	真空泵(輕元素分析用)
	標準品 (金屬電鍍薄膜厚度標樣, RoHS標樣)

■ 應用領域
RoHS/WEEE
(1)滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對電子電機產品中有有害物質含量的快速檢測分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
(2)針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準，利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法，滿足廠商簡易的需求。
環境分析
(1)可針對土壤、污泥、灰渣等進行快速有害物質的成分鑑定。
(2)空氣中懸浮微粒中Pb等有害物質的監測。
(3)鑑別木材是否以具毒性的鉻化酸銅(CCA)防腐處理
合金分析
(1)金屬材料品質控管 :合金中主成份的快速分析。
(2)合金成份的鑑定 : 有效分辨材質相近合金種類，如：304/321
(3)貴金屬的分析鑑定 : 貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析
(4)金屬回收與分類 : 依金屬成份含量做分類
(5)回收汽車催化劑中，金、鉑、銠的成份分析
油品分析
(1)燃料中的硫含量對環境的影響 : XRF 為最有效檢測燃料中硫成份的工具(依據ASTM D4294)
(2)監測潤滑油中重金屬的成分 : 精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金屬磨損(依據ASTM D6481)
(3)廢油中Cl 的測定
鍍層厚度分析
(1)分析電子部品電鍍層的厚度
(2)各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
(3)各鍍層的成分比例分析
其他
(1)考古學古物分析 : 古物年代鑑定
(2)食品分析 : 食品中重金屬濃度分析
(3)藝術品修復 : 顏料中金屬成份分析

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